| Test Pattern Generation (cont.) |
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| • | Then
we fix the output |
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| of
this combined circuit |
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| to
true, and treat this as a |
||||||||||||
| boolean
satisfiability |
||||||||||||
| problem,
seeking a |
||||||||||||
| satisfying
truth |
||||||||||||
| assignment
to the inputs. |
||||||||||||
| • | Such
an assignment will |
|||||||||||
| be a
test pattern suitable |
||||||||||||
| for
testing for the given |
||||||||||||
| fault. |
||||||||||||
| ? |
| ? |
| true |
| true |
